Masque à décalage de phase
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En lithographie, un masque à décalage de phase ou PSM (Phase Shift Mask en anglais) est un masque photographique qui module en phase la lumière incidente de façon à réaliser une interférence, ce qui lui permet d'offrir une meilleure résolution qu'un masque binaire. Il existe des masques à décalage de phase atténués (attenuated PSM), alternés (alternating PSM) et sans chrome (chromeless PSM).
Voir aussi
- Phase-shift keying
- Correction optique de proximité
- Portail des micro et nanotechnologies
- Portail de l’électricité et de l’électronique