走査型トンネル分光法

走査型トンネル分光法（そうさがたトンネルぶんこうほう、Scanning tunneling spectroscopy）とは、走査型トンネル顕微鏡の探針を使用して試料の表面の状態を分析する手法。原子スケールの分解能で試料の局所的な電子状態密度に対応したトンネルスペクトルが得られる^[1]。

概要

走査型トンネル顕微鏡の開発と同時期に開発された^[2]^[3]。

^ 梶村皓二、「表面を探る : 2. 表面顕微鏡: 超伝導体と有機物質のSTM/STS (<特集> 表面)」『日本物理学会誌』 1991年 46巻 4号 p.288-293, doi:10.11316/butsuri1946.46.288, 日本物理学会
^ 富取正彦、「走査型トンネル分光法の基礎 (PDF) 」『顕微鏡』 43.1 (2008): p.46-49.
^ 富取正彦、「STM/STS と走査探針」『電子顕微鏡』 1999年 34巻 2号 p.147-149, doi:10.11410/kenbikyo1950.34.147, 日本顕微鏡学会

舘田潤, 重田諭吉、「28pPSB-13 走査型トンネル分光法による局所状態密度の解析」『日本物理学会講演概要集』 58.1.4巻 2003年 p.848- , 日本物理学会
山田豊和, 溝口正、「30aWR-5 サブナノメーターの磁気分解能をもつスピン偏極走査型トンネル分光法を用いてのFe/Mn/Fe(001)磁気多層膜の観察(領域9,領域3合同 : 表面磁性)(領域9)」『日本物理学会講演概要集』 59.1巻 2004年 p.930- , doi:10.11316/jpsgaiyo.59.1.4.0_930_1, 日本物理学会
西野智昭, 梅澤喜夫、「分子探針を用いる走査型トンネル顕微鏡」『分析化学』 2005年 54巻 6号 p.417-426, doi:10.2116/bunsekikagaku.54.417, 日本分析化学会
富取正彦、「ナノ評価のための走査型プローブ顕微鏡法の概説と最近の話題」『色材協会誌』 2010年 83巻 5号 p.233-239, doi:10.4011/shikizai.83.233, 色材協会